UV-Vis / UV-Vis-NIR 主機平台
LAMBDA 365+UV/Vis 分光光譜儀
- 日常定量、吸收光譜與方法建立
- PC、Touch 與受管制資料流程
- 溫控、自動進樣與固體附件配置
LAMBDA 465PDA UV/Vis 光譜儀
- 190–1100 nm 完整光譜最快 20 ms
- 適合快速反應與動力學光譜追蹤
- PDA 同步擷取完整光譜,無需逐波長掃描
LAMBDA 850+UV/Vis 分光光譜儀
- 雙光束與雙單色器設計,提升量測穩定性並降低雜散光
- 低穿透率與高吸光度樣品的精密量測
- 玻璃、薄膜、鍍膜與光學濾光片分析
LAMBDA 1050+UV/Vis/NIR 分光光譜儀
- 雙光束與雙單色器設計,結合三種近紅外偵測器配置
- 紫外、可見至近紅外的低穿透率與高吸光度材料量測
- 玻璃、薄膜、鍍膜、太陽能與光電材料分析



