QA / QC 導向
適合品質控管、常規實驗室與專業例行分析等日常量測情境。
ABB FT-IR / FT-NIR 主機兼具常規實驗室、品質控管與工業製程分析需求,適合需要穩定操作、耐環境設計與高重現性的量測工作。
適合品質控管、常規實驗室與專業例行分析等日常量測情境。
可對應工業分析、製程監控、油脂分析與聚酯反應等應用需求。
ZnSe beamsplitter、不易受潮與低維護負擔,是 ABB 系列的重要特色。
同頁收錄 FT-IR 與 FT-NIR 主機,方便快速查看不同平台與應用方向。
MB3000 適用於品牌、QA / QC、實驗室例行分析與重視耐環境特性的量測需求。
| 核心特色 | 採用防潮式 ZnSe beamsplitter,可降低受潮風險並提升日常使用穩定性。 |
| 適合情境 | QA / QC、專業實驗室與重視穩定性的常規 FT-IR 應用。 |
| 光譜範圍 | 485 - 8500 cm-1 |
| 解析度 | better than 0.7 cm-1 |
| 訊號雜訊比 | Maximum signal-to-noise ratio 50000:1 |
| 其他重點 | 24-bit ADC、baseline instability < 0.09%、frequency repeatability @ 1918 cm-1 < 0.001 cm-1 |
MB3600 適合工業與製程場景下的 FT-NIR 量測,可快速對應近紅外分析、製程監控與高靈敏度應用需求。
| 環境穩定性 | 光學元件不吸水,不需以 N2 或乾燥劑保護光學元件。 |
| 光學結構 | Patented double pivot interferometer,搭配 quartz halogen source 與 solid-state laser。 |
| 波段範圍 | DTGS: 3700 - 15000 cm-1;InAs: 3700 - 12000 cm-1;InGaAs: 3900 - 11000 cm-1 |
| 解析度 | better than 0.7 cm-1 |
| 訊號雜訊比 | DTGS > 100,000:1;InAs > 500,000:1;InGaAs > 600,000:1 |
| 適合情境 | 製程監控、工業分析、快速量測與高靈敏度近紅外應用。 |
ABB 主機可搭配多種原廠與第三方附件,適合依不同量測模式、樣品型態與應用條件進行配置。
可搭配 ABB 專用附件,並維持良好的光路相容性與日常操作便利性。
可搭配 MIRacle ATR、horizontal ATR、DRIFT 與 gas cells 等多種常用附件。
可搭配 DRIFT Reaction Chamber、Heated Cell 與 VATR 等延伸量測附件。
依樣品型態、量測模式與研究條件選擇合適附件,可擴充更完整的分析能力。
ABB FT-NIR 可對應多種產業應用,涵蓋聚酯製程、油脂分析與製程監測等常見分析方向。
可用 FT-NIR 快速分析聚酯樹脂生產中的 OH 值與 AN 值,作為滴定法之外的快速量測方案。
MB3600-CH10 可量測 IV 與反式脂肪,並可延伸到水分、熔點、雲點、皂化值、酸價與 FFA 等項目。
除實驗室量測外,也可應用於製程端的在線或近線分析需求。
適合需要快速量測、高靈敏度與穩定重現性的工業分析工作。
如果你是要找 MB3000、MB3600,或是希望比較 ABB 與 PerkinElmer 在常規分析、工業應用上的差異,都可以直接和我們聯絡。