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Variable Angle BXH-S1G / FT-IR / UV-Vis

Harrick Brewster's Angle Sample Holder布魯斯特角樣品架

適合薄膜變角透射量測、干涉條紋抑制、薄膜厚度與折射率分析，並可搭配 polarizer 進行進一步的角度與偏振研究。

此類附件並非一般薄膜夾具，而是用於可調入射角量測的專用樣品架。當薄膜樣品在透射條件下出現干涉條紋，或需要藉由角度變化取得厚度與折射率資訊時，Brewster's Angle 量測可提供更高的分析價值。

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Harrick Brewster's Angle Sample Holder
可在 Brewster's Angle 或其他指定角度下進行透射量測，適合薄膜與角度敏感樣品分析。

Harrick Brewster's Angle Sample Holder

Catalog No. BXH-S1G

此附件可讓薄膜樣品在 Brewster's Angle 或其他指定角度下進行透射量測。對需要觀察薄膜吸收特徵、干涉條紋變化，或希望由量測結果進一步推估厚度與折射率的應用而言，此類變角樣品架較一般固定式 holder 更具實用性。

若樣品本身容易出現 interference fringes，或希望提升變角量測的判讀品質，可搭配 polarizer 使用；若樣品厚度較高，也可進一步採用 optical compensation 的量測方式，以降低 beam offset 對結果造成的影響。

產品重點摘要

  • 型號為 BXH-S1G，適用於 FT-IR 與 UV-Vis 的變角透射量測。
  • 可在 Brewster's Angle 或其他指定角度下操作，附角度刻度盤。
  • 可搭配 Wire Grid Polarizer（PWG-U1R）或 Glan Taylor Polarizer（PGT-S1V）。
  • 標準內容包含 sample holder、sample support 與 slide plate mounting。
Use Case

什麼情況下會需要Brewster's Angle 量測

此樣品架的重點不僅在於固定樣品，更在於藉由角度控制改善量測品質，並取得額外的薄膜光學資訊。

干涉條紋干擾吸收峰

  • 薄膜透射量測常出現 interference fringes，容易掩蓋弱吸收峰。
  • 在 Brewster's Angle 並搭配 polarizer 使用時，可降低反射造成的條紋影響。
  • 對表面處理膜層、功能薄膜與聚合物薄膜特別有幫助。

需要厚度與折射率資訊

  • 變角透射量測可用於薄膜厚度與 refractive index 資料分析。
  • 若樣品角度可精準控制，干涉條紋本身也可作為分析訊號。
  • 比單一角度透射量測更適合做進一步的光學參數判讀。

厚樣品變角量測誤差

  • 厚樣品在變角透射量測下，可能因 beam offset 導致量測失真。
  • 使用補償樣品進行 optical compensation，可改善 detector 收光準確度。
  • 這一點對較厚薄板、片材與高折射率材料更重要。
Key Highlights

產品重點整理便於快速掌握應用方向

產品功能重點

  • 可在 Brewster's Angle 或任意角度下量測薄膜透射訊號。
  • 可搭配 polarizer，減少 interference fringes。
  • 提供 sample support 與 slide plate mounting。

進階量測重點

  • 厚樣品在變角透射量測下可能出現 beam offset。
  • 以第二片相同厚度樣品或 matched material 做補償，可改善準確度。
  • 適合需要更高量測準確度與方法驗證的應用情境。

適用對象

  • 已在進行薄膜透射量測的研究與分析單位。
  • 需要抑制 fringes、分析 film thickness 或 refractive index 的使用者。
  • 需要 FT-IR / UV-Vis 角度附件與 polarizer 整合方案的實驗室。
Accessories

搭配配件建議可依量測需求選配

若應用重點包含薄膜變角量測、偏振條件控制或 interference fringes 抑制，可一併評估下列配件，以提升量測靈活度與資料判讀品質。

Glan Taylor Polarizer

  • 型號：PGT-S1V
  • 可搭配變角量測與偏振條件分析。
  • 適合需要更明確區分偏振效應的薄膜研究。

Wire Grid Polarizer

  • 型號：PWG-U1R
  • 可與本樣品架搭配使用，強化偏振條件控制。
  • 適合搭配減少 interference fringes、提升弱吸收峰判讀性。

配件整合方向

  • 若量測需求包含角度變化、偏振條件控制或薄膜光學分析，建議一併評估相關配件。
  • 不同樣品厚度、材質與儀器配置，適合的搭配方式可能不同。
  • 提供樣品厚度、材質與儀器型號後，可進一步協助確認配置方向。

需要進行薄膜變角透射量測、干涉條紋抑制或折射率分析？提供樣品條件，我們可協助評估配置

若您已規劃進行薄膜透射量測，並希望確認是否適合採用 Brewster's Angle 樣品架，或搭配 polarizer 進行進階量測，歡迎提供樣品厚度、材質與儀器型號，我們可協助初步評估。

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