適用於可變角透射量測,可搭配 polarizer 與 AutoPRO 軟體進行自動化控制。
PIKE RotatIR Sample Stage
Automated / Manual / Dual RotatIR
PIKE RotatIR 是為透射角度可程式化控制而設計的樣品台,可將樣品相對於紅外光束的角度進行精細調整。對於薄膜厚度研究、Brewster angle 量測、試樣反射特性評估與偏振條件分析,這類可變角附件能提供比固定式樣品架更完整的量測資訊。
若搭配 AutoPRO 軟體、Motion Control Unit 與整合式馬達系統,可自動切換預設量測角度並執行光譜收集;若樣品為較厚的光學元件,則可進一步採用 Dual RotatIR 配置,以改善 beam displacement 對 detector 收光造成的影響。
產品重點摘要
- 角度範圍為 0 至 90°,角度解析度為 0.2°。
- 可搭配 AutoPRO 軟體進行自動化角度切換與量測流程控制。
- 標準採 2 x 3 吋 slide mount,方便安裝不同型式的透射樣品 holder。
- 提供 Automated RotatIR、Manual RotatIR 與 Dual RotatIR 等配置。
- 相容多數 FTIR 系統,適合導入自動化變角量測流程。