平板樣品台
表面平整，適合固體、薄膜與可貼合晶體的樣品；固體量測需搭配夾具，使樣品與晶體保持良好接觸。
PIKE Technologies / ATR Accessory
PIKE MIRacle™ ATR可換晶體板 ATR 平台
PIKE MIRacle™ ATR 是一款通用型 ATR 取樣附件，可用於分析固體、液體、糊狀物、凝膠與難溶性材料。最常用的單反射配置具有高紅外光通量，適合樣品鑑定與 QA/QC；也可根據低濃度成分與加熱量測需求，選擇不同的晶體板與溫控配件。
Reflection Options
反射次數與樣品台
MIRacle™ ATR 可透過更換晶體樣品台組合，因應不同的量測需求與應用。
- 單反射
- 最常用的高通量配置，適合固體、粉末、薄膜、一般液體與例行樣品鑑定，也是 QA/QC 應用的主要選擇。
- 3 次反射
- 適合低濃度液體、凝膠、水膠與柔軟樣品，可在維持操作彈性的同時增加量測靈敏度。
- 9 次反射
- 用於需要更高靈敏度的低濃度液體與微量成分量測，MIRacle 提供槽式 Diamond／ZnSe 晶體板。
槽式樣品台
晶體位於凹槽內，可承接液體、糊狀物與粉末；MIRacle 的 9 次反射配置僅提供槽式晶體板。
ATR Crystal Materials
ATR 晶體材質
不同的 MIRacle™ ATR 晶體材質會影響可量測的酸鹼條件、光譜範圍與樣品穿透深度。
Diamond／ZnSe
鑽石作為樣品接觸面，適合硬質、酸性或鹼性樣品，也是 MIRacle 最通用的晶體配置。
- 樣品 pH
- 1–14
- 低波數界線
- 525 cm⁻¹
Diamond／KRS-5
適合硬質與酸鹼樣品，並可延伸至較低波數，用於需要較完整中紅外光譜範圍的量測。
- 樣品 pH
- 1–14
- 低波數界線
- 250 cm⁻¹
ZnSe
一般用途晶體，適合液體、糊狀物、凝膠與柔軟樣品；不適合強酸、強鹼與會侵蝕 ZnSe 的樣品。
- 樣品 pH
- 5–9
- 低波數界線
- 520 cm⁻¹
Ge
穿透深度較淺，適合碳黑填充橡膠、高折射率材料與其他吸收很強的樣品。
- 樣品 pH
- 1–14
- 低波數界線
- 575 cm⁻¹
Si
適合遠紅外光譜與高吸收樣品，也具有良好的耐磨與耐熱衝擊特性。
- 樣品 pH
- 1–12
- 光譜範圍
- 8900–1500、475–40 cm⁻¹
Temperature Control
溫控量測配置
MIRacle™ ATR 在熔融、結晶、相變、固化與反應動力學量測等有溫度需求時，可選擇溫控晶體板與相關控制配件。
一般加熱控溫 Heated
加熱型晶體板以電阻升溫，適合只需加熱或維持固定溫度的熔融、固化與加熱反應量測，不需水循環散熱。
- 基本配置
- 加熱型晶體板＋溫度控制器
- 晶體選擇
- Diamond／ZnSe、ZnSe 或 Ge
加熱與冷卻控溫 Peltier
可在 10–90°C 間升溫與降溫，適合熔融後冷卻結晶、溫度斜坡與跨越室溫的相變研究。
- 基本配置
- Peltier 晶體板＋Peltier 專用控制器
- 晶體選擇
- ZnSe 或 Ge
- 散熱需求
- 需搭配循環水散熱
循環水散熱 Liquid Recirculator
提供 Peltier 晶體板所需的室溫循環液，將運作時產生的熱量帶走；這是散熱配件，不負責直接設定樣品溫度。