UV-Vis / UV-Vis-NIR PerkinElmer / STARNA

LAMBDA 850+ / 1050+ UV-Vis/NIR 旗艦級材料分析系統

全球科研與光學大廠首選:涵蓋 175nm 至 3300nm 全波段分析,專為高階光電材料、n&k 值計算與鍍膜評估設計。

以 LAMBDA 850+ / 1050+ 旗艦平台作為核心,向下串接高通量例行分析、STARNA 頂級石英比色管,以及 Brewster's Angle 與 Glan-Taylor Polarizer 光電材料附件方案。

頁面重點
LAMBDA 850+ / 1050+ 三偵測器系統 雙單光器 高線性動態範圍 LAMBDA 465 / 365+ STARNA 頂級石英比色管
Advanced Research

LAMBDA 850+ / 1050+ 旗艦家族高階光電材料、薄膜與鍍膜評估核心平台

將 LAMBDA 850+ / 1050+ 放在頁面首要位置,凸顯其 175nm 至 3300nm 全波段能力,以及對 n&k 值計算、反射 / 透射光譜、低穿透率材料與複雜光學膜層分析的定位。

PerkinElmer LAMBDA 1050+ UV-Vis/NIR 旗艦級材料分析系統

LAMBDA 850+ / 1050+ UV-Vis/NIR

全球科研與光學大廠首選的旗艦級材料分析系統

此平台適合高階光電材料、玻璃與鍍膜、太陽能材料、顯示器光學膜、低穿透率樣品與寬波段反射 / 透射分析。對需要建立高品質光譜資料並進一步計算 n&k 光學常數的實驗室,LAMBDA 850+ / 1050+ 是優先評估的旗艦配置。

三偵測器系統 (PMT/InGaAs/PbS) 雙單光器 高線性動態範圍
波長範圍175nm - 3300nm 全波段 UV-Vis/NIR
研究定位高階光電材料、n&k 值計算、鍍膜與薄膜評估
核心光學雙單光器架構,搭配三偵測器系統
適合樣品光學玻璃、AR/IR coating、顯示材料、太陽能材料與低穿透率薄膜
Routine Analysis

高通量與快速檢測解決方案日常 UV-Vis 分析、PDA 快速量測與標準比色管

針對例行分析、品管、教學與高通量快篩需求,可由 LAMBDA 465、LAMBDA 365+ 與 STARNA 頂級石英比色管組成穩定、易維護的中階分析配置。

PerkinElmer LAMBDA 465 PDA UV/Vis 光譜儀

LAMBDA 465 (PDA)

Photodiode Array 架構適合快速掃描與高通量 UV-Vis 檢測,對例行定量、反應追蹤、方法建立與教學實驗室特別友善。

定位快速 UV-Vis 檢測
特色PDA 高速擷取
適合QA/QC、液體樣品與教學

LAMBDA 365+

定位於穩定、可靠的 Routine UV-Vis 分析平台,適合標準液體樣品、日常吸收光譜、濃度定量與實驗室常規方法。

定位例行 UV-Vis 分析
特色穩定、易操作、易維護
適合常規檢測、教學與一般研發

STARNA 頂級石英比色管 (Cuvettes)

高品質石英比色管是 UV-Vis 液體分析的基礎耗材,可依光徑、容積、材質、密封需求與校正標準品搭配方式選型。

定位高階 UV-Vis 液體量測耗材
可選不同光徑、微量、螢光與特殊型式
適合定量分析、方法驗證與標準校正
Optical Solution

光電材料反射與偏振專區

Brewster's Angle Holder 與 Glan-Taylor Polarizer 可搭配 UV-Vis/NIR 系統進行角度、偏振與薄膜光學分析,適合表面反射、干涉條紋抑制、薄膜厚度與折射率相關研究。

LAMBDA 1050+ UV-Vis/NIR
LAMBDA 850+ / 1050+ 旗艦級材料分析系統,進入完整產品頁查看光學性能、產業應用與附件矩陣。
Brewster's Angle Holder
Brewster's Angle 可調入射角樣品架,用於薄膜、干涉條紋與反射條件研究。
Glan-Taylor Polarizer
Glan-Taylor Polarizer 控制偏振狀態,支援 s-pol / p-pol 條件下的光學材料分析。

需要 UV-Vis/NIR 材料分析系統選型建議?

若已經確認欲評估 LAMBDA 850+ / 1050+、LAMBDA 465、LAMBDA 365+、STARNA 石英比色管或 Brewster's Angle / Polarizer 光電材料附件,歡迎提供波段範圍、樣品型態、反射 / 透射條件與是否需 n&k 計算,我們可協助確認完整配置。