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Reflection Accessories Diffuse / Specular / In-situ

漫反射與鏡面反射附件Diffuse & Specular Reflectance

專為粉末、粗糙表面與金屬塗層薄膜設計的無損分析與原位 (in-situ) 解決方案。

本頁聚焦 diffuse reflectance、specular reflection 與高角度表面分析配置，方便快速比較入射角、樣品型態與應用方向。

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收錄常用漫反射與鏡面反射附件、照片與規格資訊。 可依可變角度、原位需求、粉末量測與表面反射條件快速比較適合的量測配置。
Products

漫反射與鏡面反射產品列表直接看產品名、照片與規格重點

以下整理 diffuse 與 specular reflectance 常用產品資訊，方便依量測模式、入射角與樣品條件快速比較。

PIKE VeeMax III Variable Angle Reflection
支援 30° 至 80° 可變入射角，並可對應 0.4 至 46 μm 的檢測深度範圍，適合 20 mm 直徑樣品量測。

PIKE VeeMax III Variable Angle Reflection

可變角度反射裝置｜30° 至 80° 入射角

適用於薄膜、表面與不同深度的反射量測需求，可支援代表性的高角度反射應用。

入射角30° to 80° variable angle
檢測深度0.4 to 46 μm
樣品尺寸20 mm diameter
延伸能力可加購電腦控制軟體
PIKE EasiDiff
出廠完成校正，可直接安裝於 FT-IR 系統使用，有助於縮短導入時間並降低操作門檻。

PIKE EasiDiff

已校正 diffuse reflectance accessory

EasiDiff 具備操作結構簡潔與出廠校正完成等特點，適合作為 diffuse reflectance 量測的導入配置。

核心訴求Factory aligned
使用方式放入 FT-IR 內即可使用
安裝難度不需使用者再作調整
適合情境快速導入 diffuse reflectance 量測
PIKE DiffusIR
適合作為粉末、催化劑與表面反射研究的導入方向，便於後續延伸至更完整的 diffuse reflectance 配置規劃。

PIKE DiffusIR

Diffuse reflectance 主力線｜承接粉末與觸媒應用

本頁保留 diffuse reflectance 主要產品線，適合對應粉末、觸媒與表面分析應用。

量測方向Diffuse reflectance
適合樣品粉末、催化劑、表面分析樣品
產品定位代表性的 diffuse reflectance 量測產品線
延伸方向可依應用需求進一步評估特定型號與配置
Selection Focus

反射附件選型通常先確認三個問題

樣品表面與量測模式

  • Diffuse、specular 與 high-angle reflection 對應不同產品線。
  • 薄膜、金屬表面與粉末樣品需依量測模式分別評估。
  • 產品卡已整理各類反射量測的差異重點。

角度、晶體與深度

  • 高角度產品的核心條件包括可變角度與檢測深度。
  • 表面分析時晶體與 sample format 需一併確認。
  • 可作為進一步規格比較與選型依據。

Diffuse reflectance 規劃

  • 本頁保留 diffuse reflectance 主要產品線。
  • 可依粉末、觸媒與反應條件進一步評估型號。
  • 適合用於反射附件整體規劃與配置比較。
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需要評估 diffuse、specular 或 high-angle reflection 配置？可提供條件進行規格評估

提供樣品型態、表面條件與是否需要 variable angle 或 diffuse reflectance，我們可協助評估合適的反射附件配置。

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