高通量鑽石晶體
採用高性能單反射 diamond ATR crystal,適合高硬度樣品、粗糙顆粒與具磨耗性的樣品型態。
採用高光通量 diamond crystal 與內建 slip-clutch 壓持器,專為硬質固體、磨耗性粉末與高要求表面接觸條件所設計。
DiaMax ATR 為 Harrick 的高性能單反射鑽石 ATR 解決方案,特別適合 tough samples、abrasive powders 與需要高機械耐受度的 routine ATR 分析。原廠資料亦提供加熱、流通、force sensor 與 FIR monolithic diamond sampling plate 等延伸配置,讓系統可由日常 QC 延伸至研究與條件控制應用。
採用高性能單反射 diamond ATR crystal,適合高硬度樣品、粗糙顆粒與具磨耗性的樣品型態。
內建 slip-clutch pressure applicator,可在建立良好接觸的同時避免過度施壓,提升晶體保護與操作一致性。
採用 Harrick 的 PermaPurge™ 設計,可在不打斷 purge 條件下快速完成樣品更換,減少等待時間並提升日常分析效率。
可規劃加熱固體樣品或流通液體配置,最高可延伸至 200 °C,適合 process monitoring 與加熱條件實驗。
DiaMax ATR 並非入門型 ATR,而是針對 tough samples 與高耐用性需求所規劃的高性能平台。若樣品屬於硬質固體、磨耗性粉末、強酸或強鹼液體,或操作上需要穩定且可重複的加壓接觸條件,DiaMax ATR 會比一般通用型 ATR 更具優勢。
Sand 樣品的 ATR 光譜可作為 DiaMax ATR 應用於硬質顆粒與高磨耗性樣品分析的代表性示例,適合用來說明其在無機顆粒與粗糙樣品上的量測能力。
黑線為 brown paper,藍線為 blue print on brown paper,可清楚呈現紙張基材與表面印刷墨層之間的光譜差異,適合應用於印刷層、塗層與表面處理分析。
Blue ink 的 ATR 光譜可作為 DiaMax ATR 應用於表面墨層、塗佈層與局部污染物分析的代表性示例,適合說明其對微量表面殘留與局部成分差異的辨識能力。
DiaMax ATR 的核心在於高耐用性 diamond crystal 與內建 slip-clutch 壓持器。對於需頻繁操作、樣品形貌不規則或接觸面較粗糙的場景,能提供更穩定的樣品貼合與較低的晶體損傷風險。
| ATR crystal | High throughput diamond ATR crystal |
| 採樣面積 | 1.5 mm diameter |
| 光譜範圍 | Mid-IR;可選配 FIR diamond |
| 壓持機構 | Built-in slip-clutch pressure applicator |
| 晶體支撐材質 | Chemically resistant stainless steel holder |
| 適用樣品 | Hard solids、abrasive powders、corrosive liquids |
| 加熱延伸 | 選配加熱固體/液體模組,最高可達 200 °C |
| 額外選配 | Flow cells、force sensor、FIR monolithic diamond sampling plate |
若您正在評估硬質固體、磨耗性粉末、表面塗層或高要求 routine ATR 分析,歡迎提供 FTIR 機型、樣品型態、是否需要加熱與是否重視高耐用晶體條件。我們可協助整理適合的 DiaMax ATR 配置方向。