Harrick DiaMax ATR High Throughput Diamond ATR

Harrick DiaMax ATR高通量鑽石晶體 ATR 附件

採用高光通量 diamond crystal 與內建 slip-clutch 壓持器,專為硬質固體、磨耗性粉末與高要求表面接觸條件所設計。

DiaMax ATR 為 Harrick 的高性能單反射鑽石 ATR 解決方案,特別適合 tough samples、abrasive powders 與需要高機械耐受度的 routine ATR 分析。原廠資料亦提供加熱、流通、force sensor 與 FIR monolithic diamond sampling plate 等延伸配置,讓系統可由日常 QC 延伸至研究與條件控制應用。

Harrick DiaMax ATR 官方產品圖
1.5 mm 單反射鑽石晶體採樣面積,適合高接觸壓力與小範圍樣品量測。
Slip-clutch 內建防過載壓持器,兼顧樣品貼合效果與晶體保護。
最高 200 °C 可延伸加熱固體或流通液體量測,適合條件控制與反應追蹤。
Core Features

產品特色高光通量鑽石晶體與穩定壓持機構兼顧耐用性與量測表現

高通量鑽石晶體

採用高性能單反射 diamond ATR crystal,適合高硬度樣品、粗糙顆粒與具磨耗性的樣品型態。

Slip-clutch 壓持保護

內建 slip-clutch pressure applicator,可在建立良好接觸的同時避免過度施壓,提升晶體保護與操作一致性。

PermaPurge™ 快速換樣設計

採用 Harrick 的 PermaPurge™ 設計,可在不打斷 purge 條件下快速完成樣品更換,減少等待時間並提升日常分析效率。

可延伸加熱與流通

可規劃加熱固體樣品或流通液體配置,最高可延伸至 200 °C,適合 process monitoring 與加熱條件實驗。

DiaMax ATR 的定位

DiaMax ATR 並非入門型 ATR,而是針對 tough samples 與高耐用性需求所規劃的高性能平台。若樣品屬於硬質固體、磨耗性粉末、強酸或強鹼液體,或操作上需要穩定且可重複的加壓接觸條件,DiaMax ATR 會比一般通用型 ATR 更具優勢。

  • 適合 sand、paper、ink、adhesives、coatings 與高磨耗樣品分析。
  • 鑽石晶體與 chemically resistant holder 可對應更嚴苛的樣品條件,包括強酸、強鹼液體。
  • 1.5 mm 採樣面積有助於提高局部樣品接觸控制與重現性。
  • 可依需求評估加熱、流通、force sensor 與 FIR diamond sampling plate 等選配。
Application Images

應用示例圖譜展示 DiaMax ATR 在不同樣品型態下的量測表現與應用價值

DiaMax ATR 測得的 sand 光譜圖

Sand 樣品

Sand 樣品的 ATR 光譜可作為 DiaMax ATR 應用於硬質顆粒與高磨耗性樣品分析的代表性示例,適合用來說明其在無機顆粒與粗糙樣品上的量測能力。

DiaMax ATR 測得的 brown paper 與 blue print on brown paper 光譜圖

Brown Paper 與 Blue Print

黑線為 brown paper,藍線為 blue print on brown paper,可清楚呈現紙張基材與表面印刷墨層之間的光譜差異,適合應用於印刷層、塗層與表面處理分析。

DiaMax ATR 測得的 PaperMate Profile 藍色墨水光譜圖

Blue Ink

Blue ink 的 ATR 光譜可作為 DiaMax ATR 應用於表面墨層、塗佈層與局部污染物分析的代表性示例,適合說明其對微量表面殘留與局部成分差異的辨識能力。

機構與操作重點

DiaMax ATR 的核心在於高耐用性 diamond crystal 與內建 slip-clutch 壓持器。對於需頻繁操作、樣品形貌不規則或接觸面較粗糙的場景,能提供更穩定的樣品貼合與較低的晶體損傷風險。

Crystal: High throughput diamond ATR crystal
Holder: Chemically resistant stainless steel holder
Pressure: Built-in slip-clutch pressure applicator

適合討論的導入情境

硬質固體: 礦物、砂粒、硬質表面與不易壓合樣品。
磨耗性粉末: 需要高耐久晶體與穩定加壓條件的 routine ATR 分析。
條件控制: 若需加熱或流通,建議於選型階段同步確認加熱模組與溫控需求。
Technical Specs

技術規格核心規格與延伸選配方向

主要規格

ATR crystalHigh throughput diamond ATR crystal
採樣面積1.5 mm diameter
光譜範圍Mid-IR;可選配 FIR diamond
壓持機構Built-in slip-clutch pressure applicator
晶體支撐材質Chemically resistant stainless steel holder
適用樣品Hard solids、abrasive powders、corrosive liquids
加熱延伸選配加熱固體/液體模組,最高可達 200 °C
額外選配Flow cells、force sensor、FIR monolithic diamond sampling plate
原廠資料強調 DiaMax ATR 為 high throughput diamond ATR 平台,若規劃加熱或流通配置,建議同步確認樣品型態、接頭形式與實際溫控需求。

選型提醒

如果樣品很硬: DiaMax ATR 通常比一般通用型 ATR 更適合高壓接觸情境。
如果樣品具磨耗性: 鑽石晶體與 slip-clutch 可提供更高耐用度與更安全的日常操作條件。
如果要加熱: 可評估原廠加熱固體或流通液體配置,最高可延伸至 200 °C。
如果重視重現性: 可再討論 force sensor 與相關配件,協助建立一致的加壓條件。

評估 Harrick DiaMax ATR可協助確認樣品型態、加熱需求與 FTIR 對應配置

若您正在評估硬質固體、磨耗性粉末、表面塗層或高要求 routine ATR 分析,歡迎提供 FTIR 機型、樣品型態、是否需要加熱與是否重視高耐用晶體條件。我們可協助整理適合的 DiaMax ATR 配置方向。