ATR Accessories Diamond / ZnSe / Ge

FTIR ATR 衰減全反射附件總覽ATR Accessory Directory Hub

Smarteam 提供 PIKE, Harrick 與 Specac 全系列 ATR 附件。涵蓋常規品管、極端高溫高壓環境、單分子層表面分析與各種氣液固態樣品解決方案。

依應用情境快速切換:常規與高通量分析、極端環境與高溫高壓、特殊表面與光化學。每張卡片可前往完整產品頁,或直接下載型錄與洽詢配置。

FTIR ATR 衰減全反射附件
Routine 日常品管與高通量樣品
Extreme 高溫、高壓與原位反應
Surface 薄膜與單分子層表面
Photo UV/Vis 光化學監測
Routine & High Throughput

常規與高通量分析Routine & High Throughput

適合日常 QA/QC、固體粉末、液體、薄膜與快速多樣品篩選,是多數實驗室最常優先評估的 ATR 類型。

Harrick Harrick DiaMax ATR
高光通量 Diamond ATR,內建 pressure applicator,適合硬質固體、粉末與常規高通量量測。

Harrick DiaMax ATR

全能型鑽石晶體 ATR|堅固耐用、防過載設計

DiaMax ATR 採用高光通量鑽石晶體與精密壓持器,能協助粉末、硬質固體與具磨耗性的樣品取得穩定接觸,適合例行分析與研究室共用平台。

核心定位Diamond ATR 常規高通量平台
採樣面積1.5 mm diameter
壓持結構內建防過載滑動離合器 pressure applicator
延伸能力可選配固體樣品加熱套件,最高 200°C
PIKE PIKE MIRacle ATR
可更換 crystal plates,支援單次/多次反射、壓持器、溫控與流通模組,是高彈性的 routine ATR 平台。

PIKE MIRacle ATR

萬用型單次/多次反射 ATR|全球實驗室標準配備

MIRacle ATR 以高訊噪比與可快速換晶體設計聞名,能依固體、液體、聚合物薄膜與特殊樣品需求切換 Diamond、ZnSe、Ge、Si 等晶體配置。

反射形式1.8 mm 單次反射 / 6.0 mm 多次反射
入射角45°
晶體選擇Diamond/ZnSe, Diamond/KRS-5, ZnSe, Ge, Si
常見延伸壓持器、溫控、流通與密封樣品模組
Harrick Harrick AccessATR
固定 45° 入射角、隨插即用,內建液體槽與旋鈕式固體壓持器。

Harrick AccessATR

隨插即用型固定角度 ATR|教學實驗室與常規 QA/QC 首選

AccessATR 適合預算明確、需要快速導入的實驗室。標準滑板安裝與免光路校正設計,讓液體、糊狀物、粉末與固體樣品都能快速上機。

入射角固定 45°
晶體選項ZnSe 或 Ge
硬體設計內建液體槽與固體壓持器
適用對象教學實驗室、常規 QA/QC、基礎 FTIR 取樣
Specac
Puck 磁吸快拆設計,適合需要快速更換 ATR 晶體與高通量常規分析的使用情境。

Specac Quest ATR

高通量常規單反射 ATR|Puck 磁吸快拆設計

Quest ATR 採用磁吸式 Puck 晶體盤設計,讓使用者能快速切換常用晶體材質,適合多樣品常規量測與日常品管流程。

硬體特色Puck 磁吸快拆設計
晶體選項Diamond / ZnSe / Ge
適用方向高通量日常品管、多樣化樣品快速分析
Extreme Environments

極端環境與高溫高壓Extreme Environments

用於高溫、高壓、腐蝕性樣品、原位反應與相變研究等嚴苛量測條件。

PIKE PIKE ReactorMAX ATR
支援流體導入、壓力與溫度控制,適合觸媒、聚合反應與化學動力學原位 FTIR 監測。

PIKE ReactorMAX ATR

高溫高壓原位反應監測系統

ReactorMAX ATR 專為嚴苛化學反應條件設計,提供可控溫、可加壓與流通反應配置,適合需要即時監測反應進程的研究應用。

溫度範圍常溫至 215°C
壓力能力最高 55 bar / 800 psi
入射角45° / 60° 或 35° - 65° 可變角度
適合方向催化、聚合、流體動力學與原位反應監測
PIKE PIKE IRIS ATR
高壓與廣光譜範圍 ATR,適合極端壓力條件、粉末、礦物與高硬度固體樣品。

PIKE IRIS ATR

高壓與廣光譜範圍 ATR|10,000 psi 壓力能力

IRIS ATR 適合需要高壓接觸與寬光譜量測範圍的進階應用,可用於礦物、粉末、硬質材料與高壓環境下的固態樣品分析。

壓力能力高達 10,000 psi
光譜重點高壓與廣光譜範圍
適合方向高硬度粉末、礦物分析與極端壓力研究
PIKE
全不鏽鋼無 O-ring 設計,適合高溫、腐蝕性與嚴苛化學樣品條件。

PIKE GladiATR Heated

高溫鑽石 ATR|全不鏽鋼無 O-ring 設計

GladiATR Heated 以耐用的鑽石晶體與全不鏽鋼結構對應高溫與腐蝕性樣品需求,適合常規 ATR 無法承受的嚴苛量測條件。

最高溫度300°C
結構設計全不鏽鋼無 O-ring 設計
適用方向高溫樣品、腐蝕性樣品與嚴苛環境 ATR 分析
Specac
經典高低溫 Diamond ATR,可對應超低溫至高溫的原位與相變研究。

Specac Golden Gate ATR

高溫/低溫鑽石 ATR 系統|極致溫控經典

Golden Gate ATR 適合需要寬廣溫控範圍的研究型應用,可用於相變、低溫條件、高溫反應與原位 FTIR 觀察。

溫度範圍-150°C to 300°C
晶體配置Diamond ATR
適用方向極端溫控、相變研究、原位反應
Specialized & Photochemistry

特殊表面與光化學Specialized & Photochemistry

針對薄膜、晶圓、單分子層、微量液體與 UV/Vis 光化學原位監測等特殊 ATR 應用。

Harrick Harrick VariGATR
60° 至 65° 可變高入射角,專為薄膜、晶圓與單分子層表面訊號最佳化。

Harrick VariGATR

高角度單點 ATR|半導體與表面化學專用

VariGATR 使用高入射角與 Ge 半球形晶體強化薄膜與表面層訊號,適合 Si 晶圓、金屬塗層、SAMs 單分子層與表面化學研究。

入射角60° 至 65° 可變角度
核心晶體Ge 半球形晶體
樣品尺寸最大可容納 8-inch 晶圓或大型基板
適合方向薄膜、金屬塗層、晶圓表面與單分子層分析
Harrick Harrick ConcentratIR2
10 uL 微量液體即可量測,多重反射設計可提升微量樣品吸收訊號。

Harrick ConcentratIR2

微量液體專用多重反射 ATR|高靈敏度配置

ConcentratIR2 專為微量液體與高靈敏度分析設計,可用極少樣品量取得多重反射訊號,適合稀有溶劑、生化萃取物與微量液體研究。

取樣量需求10 uL
反射次數Si 11 次 / Extended Si 23 次 / Diamond 10 次
溫度範圍常溫,或可選配加熱至 200°C
產品定位微量液體、生化檢測與高靈敏度分析
PIKE
由底部光導管導入 UV/Vis 光源,可在照光同時進行 FTIR 光化學原位監測。

PIKE GladiATR illuminate

光化學反應鑽石 ATR|UV/Vis 原位監測

GladiATR illuminate 適合 UV 固化、光起始聚合與光化學反應研究,能在樣品照光過程同步追蹤紅外光譜變化。

光源導入底部光導管導入 UV/Vis
關鍵應用光化學原位監測、UV 固化、光起始聚合
樣品方向光敏樹脂、塗層、薄膜與光反應材料

不確定該選哪一種 ATR?把樣品條件交給我們判斷

提供樣品型態、晶體材質偏好、是否需要加熱/高壓/光照,以及 FTIR 主機品牌型號,我們可協助對應合適的 ATR 附件與型錄資料。